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Jenoptik测量系统实现精确粗糙度
PMTS 2019：Jenoptik的计量系统以四种可用的探针系统开头，其中两个能够测量粗糙度和轮廓测量。
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活动协调员与协会专家，加德纳商业媒体
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Jenoptik.的计量系统从四种可用的探头系统开始，其中两个能够测量粗糙度和轮廓测量。快速更改适配器使操作员能够轻松地重新重新降低系统。可用的探头臂也标配磁性联轴器，简化平台上的探头臂更换。
速度也有所增加，W800系统能够每秒20毫米。根据该公司的说明，W900每秒定位速度的定位速度小于10微米，使用户能够减少检查周期时间并增加输出。该设备还具有评估软件Evovis，可在更换探头系统或探头臂时启用自动配置。这些设备可用作紧凑型桌面版本或完整的测量工作站。
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